電子產(chǎn)品有許多不同的電磁敏感度測(cè)試，以下是大電流注入（Bulk Current Injection）測(cè)試的示例。關(guān)于大電流注入和磁化率測(cè)試的其他規(guī)范可能會(huì)不同。利用大電流注入的最常見(jiàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是MIL-STD 461，RTCA / DO-160（航空），IEC 61000-4-6（商業(yè)）和ISO 11452-4（汽車）。
依據(jù)ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等標(biāo)準(zhǔn)要求，對(duì)汽車電子零部件系統(tǒng)等車載電子設(shè)備（包括電動(dòng)汽車DC-DC模塊、車載充電機(jī)等）進(jìn)行BCI大電流注入抗擾度測(cè)試。大電流注入測(cè)試法被認(rèn)為是汽車電子模塊敏感度測(cè)試的最重要的測(cè)試項(xiàng)目，也是汽車零部件企業(yè)首先建設(shè)的項(xiàng)目之一。

國(guó)際、國(guó)內(nèi)、汽車廠商標(biāo)準(zhǔn)及測(cè)試項(xiàng)目：

大電流注入測(cè)試方法

在11452-4中測(cè)試方法如下：
替代法：150±10mm、450±10mm和750±10mm；
閉環(huán)法：900±10mm，監(jiān)視探頭與EUT的距離是50±10mm，替代法中監(jiān)測(cè)探頭可有可無(wú)；
TWC法：100±10mm，50Ω的負(fù)載離管狀波耦合器至少200mm。

BCI閉環(huán)測(cè)試法

BCI測(cè)試典型配置圖：

測(cè)試環(huán)境：屏蔽室或電波暗室

CDG7000系列 BCI大電流注入測(cè)試系統(tǒng)

大電流注入測(cè)試旨在確認(rèn)RF信號(hào)在耦合到互連電纜和/或電源線上時(shí)，不會(huì)導(dǎo)致性能下降或與被測(cè)設(shè)備的規(guī)格發(fā)生偏差。此外，它將提供幅度/頻率故障信號(hào)。由于電纜中會(huì)出現(xiàn)較大的可變電路阻抗和諧振，因此使用校準(zhǔn)夾具將正向功率建立到注入探針中，從而在校準(zhǔn)夾具中產(chǎn)生定義的電流。實(shí)際注入的電流由監(jiān)視電流探針監(jiān)視。

BCI校準(zhǔn)

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