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當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > LCR測(cè)試儀 > 阻抗分析儀 > 1J6510B穩(wěn)科阻抗分析儀

穩(wěn)科阻抗分析儀

簡(jiǎn)要描述:穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師,電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測(cè)試人員,及生產(chǎn)線的測(cè)試人員。工程師需要在高頻率的狀況下以精度來定義元件的特性,WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測(cè)試工具。

  • 產(chǎn)品型號(hào):1J6510B
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-10-07
  • 訪  問  量:375

詳細(xì)介紹

品牌穩(wěn)科產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動(dòng)元件設(shè)計(jì)師,電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測(cè)試人員,及生產(chǎn)線的測(cè)試人員。工程師需要在高頻率的狀況下以精度來定義元件的特性,WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測(cè)試工具。


穩(wěn)科阻抗分析儀WK6500B系列特點(diǎn):

•簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手

•電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案

•30 msec超高速測(cè)試速度

•等效Rdc 可高度四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mohm

•0.05%基本精度

•可內(nèi)建1Amp 或 2Amp DC Bias,外加達(dá)到40Amp DC Bias

•可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能

•20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí) ,達(dá)升級(jí)到120MHz

•直覺的用戶操作介面,USB、LAN、GPIB及HANDLER

•可使用滑鼠及鍵盤操控,也可外接印表機(jī)及使用USB介面儲(chǔ)存資料

•具等效電路模擬功能,內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)


穩(wěn)科授權(quán)代理商:蘇州威銳科電子有限公司

我們的優(yōu)勢(shì):穩(wěn)科、是德、泰克、日置、固緯、艾德克斯、安柏、海思、普源、同惠等

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

測(cè)試參數(shù):

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(?)

高精度量測(cè):

電容,電感及阻抗基本精度為±0.05%.消耗因素精度為±0.0005及品質(zhì)因素精度為±0.05%.

元件圖形掃描

6500系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率,高精度的量測(cè). 該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀.

圖形掃描可依據(jù)頻率, 驅(qū)動(dòng)值及直流偏壓源同時(shí)在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的圖形.

顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式.單測(cè)某一頻率時(shí)可以從圖形掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)電表讀值模式.


                 

可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達(dá)1伏或20mA,實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件.可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.

外部控制

在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.

網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測(cè)試環(huán)境.

多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡(jiǎn)單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

資料儲(chǔ)存和提取

所有的測(cè)試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲(chǔ)存.

分類處理介面

Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號(hào).

印表機(jī)輸出

測(cè)試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

待測(cè)元件連接

可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要.

充電電容保護(hù)

高精密的測(cè)試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.


WK6500B系列規(guī)格參數(shù):

機(jī)型

1J6505B

1J6510B

1J6515B

1J6520B

1J6530B

1J6550B

1J65120B

頻率

20Hz~5MHz

20Hz~10MHz

20Hz~15MHz

20Hz~20MHz

20Hz~30MHz

20Hz~50MHz

20Hz~120MHz

測(cè)試參數(shù)

L(電感)、Q(品質(zhì)因素)、D(消耗因素)、C(電容)、Z(阻抗)、X(電抗)、ACR(交流電阻)、θ(相位角)、Y(導(dǎo)納)、G(電導(dǎo))、 B(電納)

參數(shù)范圍

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

G, Y, B:  0.01mS ~ >2kS

L:  0.1nH ~ > 2kH

C:  1Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000 Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180o~+180o

電平

10mV~1Vrms; 200μA~20mA

輸出阻抗

50Ω

直流疊加

內(nèi)置:0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V(選配)

外加:0 ~ +40A(選配)

測(cè)試模式

電表模式(測(cè)試值顯示)/ 分析模式(掃描曲線)

諧振頻率測(cè)試

測(cè)試值 / 偏差值

測(cè)試值下載 / CSV格式

等效電路分析測(cè)試(選配)WK65120B為標(biāo)配

絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試和磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試

分類挑選(選配) / 多步驟測(cè)試(選配) / 震蕩器 / 壓電組件測(cè)試(選配)

通信接口

GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL(選配)

內(nèi)存

20

溫濕度

溫度0℃~40℃(操作),-20℃~60℃(儲(chǔ)存),濕度>80%

輸入電壓

使用電源90~264Vac(可自動(dòng)切換),頻率47~63Hz

標(biāo)準(zhǔn)配件

操作手冊(cè),電源線,1J1011測(cè)試夾具或1J1012測(cè)試夾具,U

選配

/M Multi Measurement Mode(多步測(cè)量模式)

/B2 Binning Opto-Coupled(光藕分選)

/L Data Logger Mode(數(shù)據(jù)記錄模式)

/D1 0 ~+40Vdc bias(內(nèi)置)

/E Equivalent Circuit Analysis(等效電路分析)

/D2 -40V ~+40Vdc bias(內(nèi)置)

/B1 Binning(分選)

訂購65120B可附贈(zèng)選配D1/D2其中之一

1J1012  SMD二線式測(cè)試治具

5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip(插件式校準(zhǔn)件)

1J1014  SMD四線式測(cè)試治具

5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMDSMD標(biāo)準(zhǔn)件)

1EVA40120 SMD鑷子式測(cè)試治具


尺寸/凈重量

尺寸(mm)190/H×440/W×525/D    凈重量14.5Kg




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